Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / B. Fultz
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials [texte imprimé] / B. Fultz ; Howe J.M., Auteur . - Berlin : Springer, 2001 . - 748p. : ill. ; 24cm. ISBN : 978-3-540-67841-0 index Langues : Anglais (eng)
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Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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BFS3684 | 500-502.82-03/01 | Livre | salle de consultation sur place | 500 sciences naturelles et mathématiques | Disponible |