Titre : |
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée |
Type de document : |
texte imprimé |
Auteurs : |
Dahoo, Pierre Richard, Auteur ; Philippe Pougnet, Auteur ; El Hami, Abdelkhalak, Éditeur scientifique |
Editeur : |
London : ISTE editions |
Année de publication : |
2016 |
Collection : |
Génie mécanique et mécanique des solides |
Sous-collection : |
Série Fiabilité des systèmes multiphysiques |
Importance : |
289 p. |
Présentation : |
ill. |
Format : |
24 cm. |
ISBN/ISSN/EAN : |
978-1-78405-165-5 |
Langues : |
Français (fre) Langues originales : Français (fre) |
Mots-clés : |
Mécatronique Polarisation (lumière) Détection de défaut (ingénierie) |
Index. décimale : |
629.89 |
Résumé : |
Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d’une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites.
Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d’impacter la performance d’un produit. |
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée [texte imprimé] / Dahoo, Pierre Richard, Auteur ; Philippe Pougnet, Auteur ; El Hami, Abdelkhalak, Éditeur scientifique . - London : ISTE editions, 2016 . - 289 p. : ill. ; 24 cm.. - ( Génie mécanique et mécanique des solides. Série Fiabilité des systèmes multiphysiques) . ISBN : 978-1-78405-165-5 Langues : Français ( fre) Langues originales : Français ( fre)
Mots-clés : |
Mécatronique Polarisation (lumière) Détection de défaut (ingénierie) |
Index. décimale : |
629.89 |
Résumé : |
Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d’une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites.
Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d’impacter la performance d’un produit. |
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