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Les systemes mécatroniques embarqués, 2. Les systèmes mécatroniques embarqués
Titre de série : Les systemes mécatroniques embarqués, 2 Titre : Les systèmes mécatroniques embarqués Type de document : texte imprimé Auteurs : Abdelkhalak El Hami, Directeur de publication ; Philippe Pougnet, Directeur de publication Editeur : London : ISTE editions Année de publication : 2015 Collection : Collection Génie mécanique et mécanique des solides Importance : 244 p. Présentation : ill. Format : 24 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-78405-059-7 Note générale : Bibliogr. p. 239-241 Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre) Mots-clés : Mécatronique Fiabilité Systèmes embarqués (informatique) Électronique de l'état solide Index. décimale : 621.38 Résumé : La mécatronique associe l’informatique, la mécanique et l’électronique. Elle permet d’améliorer les performances des systèmes électroniques embarqués en réduisant leurs poids, leurs volumes, leurs consommations d’énergie et leurs coûts. Ces équipements doivent fonctionner sans défaillance pendant des durées de service de plus en plus longues.
Les systèmes mécatroniques embarqués 2 présente les avancées de la recherche et de l’industrie appliquées aux domaines des systèmes mécatroniques qui intègrent la fiabilité dans le processus de conception. Accompagné d’exemples détaillés, cet ouvrage développe une méthodologie de caractérisation des défauts des systèmes mécatroniques. Il analyse la modélisation multi physique des défauts, révélant les faiblesses de création et les mécanismes de défaillance. L’élaboration de méta-modèles permettant de simuler les effets sur la fiabilité des conditions d’emploi et de fabrication est égalementLes systemes mécatroniques embarqués, 2. Les systèmes mécatroniques embarqués [texte imprimé] / Abdelkhalak El Hami, Directeur de publication ; Philippe Pougnet, Directeur de publication . - London : ISTE editions, 2015 . - 244 p. : ill. ; 24 cm.. - (Collection Génie mécanique et mécanique des solides) .
ISBN : 978-1-78405-059-7
Bibliogr. p. 239-241
Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre)
Mots-clés : Mécatronique Fiabilité Systèmes embarqués (informatique) Électronique de l'état solide Index. décimale : 621.38 Résumé : La mécatronique associe l’informatique, la mécanique et l’électronique. Elle permet d’améliorer les performances des systèmes électroniques embarqués en réduisant leurs poids, leurs volumes, leurs consommations d’énergie et leurs coûts. Ces équipements doivent fonctionner sans défaillance pendant des durées de service de plus en plus longues.
Les systèmes mécatroniques embarqués 2 présente les avancées de la recherche et de l’industrie appliquées aux domaines des systèmes mécatroniques qui intègrent la fiabilité dans le processus de conception. Accompagné d’exemples détaillés, cet ouvrage développe une méthodologie de caractérisation des défauts des systèmes mécatroniques. Il analyse la modélisation multi physique des défauts, révélant les faiblesses de création et les mécanismes de défaillance. L’élaboration de méta-modèles permettant de simuler les effets sur la fiabilité des conditions d’emploi et de fabrication est égalementRéservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité E0114590 E620-621.38-18/ 02-01 Livre مخزن الكتب 621 Physique appliquée Disponible E0114591 E620-621.38-18/ 02-02 Livre مخزن الكتب 621 Physique appliquée Disponible E0114592 E620-621.38-18/ 02-03 Livre مخزن الكتب 621 Physique appliquée Disponible E0114593 E620-621.38-18/ 02-04 Livre مخزن الكتب 621 Physique appliquée Disponible E0114594 E620-621.38-18/ 02-05 Livre مخزن الكتب 621 Physique appliquée Exclu du prêt Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée / Dahoo, Pierre Richard
Titre : Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée Type de document : texte imprimé Auteurs : Dahoo, Pierre Richard, Auteur ; Philippe Pougnet, Auteur ; El Hami, Abdelkhalak, Éditeur scientifique Editeur : London : ISTE editions Année de publication : 2016 Collection : Génie mécanique et mécanique des solides Sous-collection : Série Fiabilité des systèmes multiphysiques Importance : 289 p. Présentation : ill. Format : 24 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-78405-165-5 Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre) Mots-clés : Mécatronique Polarisation (lumière) Détection de défaut (ingénierie) Index. décimale : 629.89 Résumé : Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d’une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites.
Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d’impacter la performance d’un produit.Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée [texte imprimé] / Dahoo, Pierre Richard, Auteur ; Philippe Pougnet, Auteur ; El Hami, Abdelkhalak, Éditeur scientifique . - London : ISTE editions, 2016 . - 289 p. : ill. ; 24 cm.. - (Génie mécanique et mécanique des solides. Série Fiabilité des systèmes multiphysiques) .
ISBN : 978-1-78405-165-5
Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre)
Mots-clés : Mécatronique Polarisation (lumière) Détection de défaut (ingénierie) Index. décimale : 629.89 Résumé : Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d’une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites.
Défauts à l’échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d’impacter la performance d’un produit.Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité E0114605 E620-629.89-05/ 01 Livre مخزن الكتب 629 Autres branches de la technologie et de l'ingénierie Disponible E0114606 E620-629.89-05/ 02 Livre مخزن الكتب 629 Autres branches de la technologie et de l'ingénierie Disponible E0114607 E620-629.89-05/ 03 Livre مخزن الكتب 629 Autres branches de la technologie et de l'ingénierie Disponible E0114608 E620-629.89-05/ 04 Livre مخزن الكتب 629 Autres branches de la technologie et de l'ingénierie Disponible E0114609 E620-629.89-05/ 05 Livre مخزن الكتب 629 Autres branches de la technologie et de l'ingénierie Exclu du prêt Les micromachines / Patrice Minotti
Titre : Les micromachines Type de document : texte imprimé Auteurs : Patrice Minotti, Auteur ; Antoine Ferreira, Auteur Editeur : PARIS : HERMES SCIENCE PUBLICATIONS Année de publication : 1998 Importance : 352 p. Présentation : ill. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-86601-713-2 Note générale : Bibliogr. Langues : Français (fre) Mots-clés : mécatronique Index. décimale : 621.5 Résumé : Retrace l'histoire encore récente des machines électromécaniques de dimensions micrométriques. Les progrès fulgurants réalisés au cours des dernières années et les évolutions actuelles démontrent que les micromachines à base de technologie silicium sont appelées à jouer un rôle important à l'aube du XXIe siècle. Les micromachines [texte imprimé] / Patrice Minotti, Auteur ; Antoine Ferreira, Auteur . - PARIS : HERMES SCIENCE PUBLICATIONS, 1998 . - 352 p. : ill.
ISBN : 978-2-86601-713-2
Bibliogr.
Langues : Français (fre)
Mots-clés : mécatronique Index. décimale : 621.5 Résumé : Retrace l'histoire encore récente des machines électromécaniques de dimensions micrométriques. Les progrès fulgurants réalisés au cours des dernières années et les évolutions actuelles démontrent que les micromachines à base de technologie silicium sont appelées à jouer un rôle important à l'aube du XXIe siècle. Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité E07105 E620-621.5-03/ 01 Livre قاعة العلوم والتكنولوجيا والطب والعلوم الطبيعة والحياة 621 Physique appliquée Disponible 620-621.5-03/01-1 620-621.5-03/01-1 Livre مخزن الكتب 004 معالجة البيانات علم الحاسوب Disponible E620-621.5-03/01-1 E620-621.5-03/01-1 Livre مخزن الكتب 004 معالجة البيانات علم الحاسوب Disponible Les systemes mécatroniques embarqués, 1. Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes
Titre de série : Les systemes mécatroniques embarqués, 1 Titre : Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes Type de document : texte imprimé Auteurs : Abdelkhalak El Hami, Directeur de publication ; Philippe Pougnet, Directeur de publication Editeur : London : ISTE editions Année de publication : 2015 Collection : Collection Génie mécanique et mécanique des solides Importance : 233 p. Présentation : ill. Format : 24 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-78405-057-3 Note générale : Bibliogr. p. 229-230. Index Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre) Mots-clés : Mécatronique Fiabilité Systèmes enfouis (informatique) Électronique Index. décimale : 621.38 Résumé : Cet ouvrage présente deux méthodologies : l’approche statistique d’optimisation de la conception par la fiabilité et l’approche expérimentale pour la caractérisation de l’évolution des systèmes mécatroniques en mode de fonctionnement. Il analyse également les nouveaux outils d’analyse des effets des contraintes d’origine thermique, vibratoire, humide, électrique et électromagnétique. Les systemes mécatroniques embarqués, 1. Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes [texte imprimé] / Abdelkhalak El Hami, Directeur de publication ; Philippe Pougnet, Directeur de publication . - London : ISTE editions, 2015 . - 233 p. : ill. ; 24 cm.. - (Collection Génie mécanique et mécanique des solides) .
ISBN : 978-1-78405-057-3
Bibliogr. p. 229-230. Index
Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre)
Mots-clés : Mécatronique Fiabilité Systèmes enfouis (informatique) Électronique Index. décimale : 621.38 Résumé : Cet ouvrage présente deux méthodologies : l’approche statistique d’optimisation de la conception par la fiabilité et l’approche expérimentale pour la caractérisation de l’évolution des systèmes mécatroniques en mode de fonctionnement. Il analyse également les nouveaux outils d’analyse des effets des contraintes d’origine thermique, vibratoire, humide, électrique et électromagnétique. Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité E0114588 E620-621.38-18/ 04-01 Livre قاعة العلوم والتكنولوجيا والطب والعلوم الطبيعة والحياة 621 Physique appliquée Disponible E0114589 E620-621.38-18/ 05-01 Livre قاعة العلوم والتكنولوجيا والطب والعلوم الطبيعة والحياة 621 Physique appliquée Disponible E0114585 E620-621.38-18/ 01-01 Livre مخزن الكتب 621 Physique appliquée Disponible E0114586 E620-621.38-18/ 02-01 Livre مخزن الكتب 621 Physique appliquée Disponible E0114587 E620-621.38-18/ 03-01 Livre مخزن الكتب 621 Physique appliquée Disponible